Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

• dient der Feststellung der Orientierung der Elementarzelle in den Kristallen
• die rückgestreuten Elektronen werden an den Netzebenen der Kristalle gestreut
• aus den Beugungsbildern lässt sich die Kristallorientierung berechnen
• Einsatz eines OIM XM4-Systems der Firma EDAX-TSL mit maximaler Rastergeschwindigkeit von 75 fps
• Mikrostrukturuntersuchungen, Texturbestimmungen, Phasenanalysen
• die Proben müssen sehr eben und glatt sein
• die Informationstiefe beträgt nur wenige nm

 

Winkelverteilung zwischen den Körnern – bevorzugte Winkel z. B. Zwillinge durch diese Darstellung erkennbar