Institut Silizium-Photovoltaik
NUV Photoelektronenspektroskopie
Die Photoelektronenspektroskopie (PES) nutzt den äußeren Photoeffekt zur Aufklärung der Struktur und elektronischen Eigenschaften von Materialien.
Untersuchte Materialien
- amorphes und nanokristallines Silizium
- SiOx /SiO2
- transparente leitfähige Oxide: ITO, ZnO, WOx, InWOx, ...
- organische Halbleiter-Dünnschichten, z.B. PEDOT:PSS
Literatur (Auswahl)
L. Korte & M. Schmidt, J. Appl. Phys. 109 (2011) 063714-1-6. |
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L. Korte; A. Laades & M. Schmidt, J. Non-Cryst. Sol. 352 (2006) 1217-20. |
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