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CoreLab CCMS (Correlative Microscopy and Spectroscopy)
Herzlich willkommen auf den Webseiten des CoreLabs Correlative Microscopy and Spectroscopy (CCMS).
Das CoreLab umfasst verschiedene Rasterelektronen- und Ionenmikroskope an den HZB-Standorten in Wannsee (LMC) und Adlershof (WCRC). Es ist dazu bestimmt die Kollegen am HZB sowie externe Nutzer aus Industrie und Forschung in ihrer Arbeit zu unterstützen und zusammen mit ihnen Fragestellungen mit Hilfe von elektronen und ionenmikroskopischen Mitteln zu beantworten.
Das CCMS und das Helmholtz-Zentrum Berlin sind Kooperationspartner im Rahmen der ZEISS labs@location Gemeinschaft, einem Netzwerk von ZEISS Anwendern, die sowohl ihr Wissen als auch spezialisierte Dienstleistungen zur Verfügung stellen.
Um die vielfältigen Untersuchungsmethoden optimal auf die jeweiligen Forschungsprojekte anpassen zu können, bitten wir im Vorfeld darum, mit uns, d.h. den jeweiligen Geräteverantwortlichen, Kontakt aufzunehmen.
Im Rahmen von wissenschaftlichen Kooperation besteht grundsätzlich die Möglichkeit die Geräte nach einer Einweisung auch selbstständig zu nutzen. Der Zugang wird über ein einfaches, webbasiertes Antrags- und Reservierungswerkzeug organisiert.
Interessenten aus der Industrie wenden sich bitte auch zunächst an die jeweiligen Gerätebetreuerinnen und -betreuer.
Nachfolgend finden sie eine kurze Aufstellung der Möglichkeiten, die das CoreLab bietet, nebst einiger Anwendungsbeispiele. Zögern Sie bitte nicht uns bei Fragen anzusprechen. Oft ergeben sich in der Diskussion bis dahin unbekannte Ansätze für mikrostrukturelle Untersuchungen.
Probenpräparation
Probenpräparation
Das Probenpräparationslabor ist darauf ausgerichtet, beliebige Materialsysteme aus unterschiedlichen Forschungsgebieten für raster- oder transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen vorzubereiten. Dazu stehen eine Vielzahl von Geräten und speziell angefertigte Hilfsmittel (auch Eigenanfertigungen) zur Verfügung.
Focused Ion Beam
Focused Ion Beam
Crossbeam Systeme verbinden die Abbildungs- und Analysemöglichkeiten eines Rasterelekronenmikroskops mit den Materialverarbeitungsleistungen eines fokussierten Galliumionen-Strahles. Ihre Möglichkeiten sind vielfältig und umfassen unter anderem 3D Tomographien im µm-nm Bereich, Nanostrukturierung sowie Herstellung von Lamellen für die Transmissionselektronenmikroskopie.
Die Orion NanoFab ermöglicht die Erstellung von Nanostrukturen unter 10nm sowohl mit Helium wie auch mit Neon. Mithilfe der Elektronen Flood Gun ist es möglich mit einer Auflösung von 0,5 nm auch von schlecht oder nicht leitenden Proben Aufnahmen zu machen. Hierfür ist keine vorherige Beschichtung mit Gold oder Kohlenstoff notwendig.
Rasterelektronenmikroskopie
Rasterelektronenmikroskopie
Insgesamt stehen der Elektronenmikroskopiegruppe vier Rasterelektronenmikroskope zur Verfügung, welche mit verschiedenen Analysemöglichkeiten wie Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX), Electron Backscatter Diffraction (EBSD), Electron Beam-Induced Current (EBIC), Kathodolumineszenz (CL) sowie Rasterkraftmikroskop (AFM) ausgestattet sind.
Transmissionselektronenmikroskopie
Transmissionselektronenmikroskopie
Die beiden Transmissionselektronenmikroskope der Elektronenmikroskopiegruppe ermöglichen ein breites Feld an hochaufgelösten Untersuchungsmethoden unter anderem Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS), Energiegefilterte Transmissionselektronenmikroskopie (EFTEM), Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) sowie Tomographie.
