Heterogrenzflächen

Eine Heterogrenzfläche ist charakterisiert durch Gitterfehlan­passungen, Grenzflächenzustände, Bandoffsets und Bandver­biegungen in den angrenzenden Festkörpern. Diese Parameter bestimmen den Ladungstransfer über/durch diese Grenzfläche und die Grenzflächen-Rekombination.

Grenzflächen-Rekombination an Heterogrenzflächen (exemplarisch skizziert für eine Wafer-basierte a-Si/c-Si-Solarzelle) ist häufig der größte Verlustfaktor bei Heterosolarzellen. Entsprechend entwickeln wir spezielle Messmethoden, um die physikalischen Parameter von Heterogrenzflächen ausmessen und die effektive Rekombination an den Grenzflächen quantifizieren zu können.

Oberflächen-Photospannungs-Methode (SPV) zur Bestimmung von:

• effektive Rekombinations-Zeitkonstanten des Absorbers: τ_eff
• Absorber Bandverbiegung: q·Φ_bi^c-Si
• Grenzflächenzustandsdichte: D_it(E)

Photoelektronenspektroskopie (NUV-PES) mit einer Anregung im nahen Ultraviolett, zur Bestimmung von:

• Leitungsband/Valenzband-Offsets: ΔE_C, ΔE_V
• Zustansdichte besetzter Zustände N_O(E) und Fermi-Energie E_F