• 
  Lin, H.-L.; Fu, W.-E.; Weng, H.-F.; Misumi, I.; Sugawara, K.; Gonda, S.; Takahashi, K.; Takahata, K.; Ehara, K.; Takatsuji, T.; Fujimoto, T.; Salas, J.; Dirscherl, K.; Garnas, J.; Damasceno, J.; de Oliveira, J.C.V.; Emanuele, E.; Picotto, G.B.; Kim, C.S.; Cho, S.J.; Motzkus, C.; Meli, F.; Gao, S.; Shi, Y.; Liu, J.; JAmting, A K.; Catchpoole, H.J.; Lawn, M.A.; Herrmann, J.; Coleman, V.A.; Adlem, L.; Kruger, O.A.; Buajarern, J.; Buhr, E.; Danzebrink, H.-U.; Krumrey, M.; Bosse, H.: Nanoparticle Characterization - Supplementary Comparison on Nanoparticle Size. Metrologia 56 (2019), p. 04004/1-93

10.1088/0026-1394/56/1A/04004