Visitenkarte Dr. Daniel Clemens
- Physiker
- Verwaltung der Neutroneninstrumente am BER-II die zur Erforschung mesoskopischer Strukturen dienen (V4, V6, V16)
- Instrumentverantwortlicher Neutronenkleinwinkelstreuung (V16)
- Projektmanagement Neutronleiterhalle-II
- Gruppenleiter Kolloidphysik
- Vertreter für instrumentelle Nutzung der V-Halle
Lebenslauf
Diplom, Technische Universität Berlin, 1989: "Untersuchung der Grenzflächenrauhigkeit von Multischichten"
Doktorarbeit, Technische Universität Berlin, 1993: "Untersuchung des Wachstums, der Struktur und der magnetischen Eigenschaften von Multischichten", Gutachter: F. Mezei, M. Steiner
1.2.1994-31.5.2002 Post-Doc und wissenschaftlicher Mitarbeiter am
Paul Scherrer Institut (PSI)
Labor für Neutronenstreuung ETH Zürich & PSIForschung und Entwicklung an optischen Beschichtungen für Neutronen and Röntgenstrahlen, Instrumentverantwortlicher für ein flexibles 2-Achsreflektometer/-diffraktometer (TOSPI, umbenannt in Morpheus) und das mit polarisierten Neutronen arbeitende Reflektometer AMOR
seit 1.6.2002
Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH
vormals Hahn-Meitner-Institut Berlin GmbH (HMI)
Begutachtung/Beratungstätigkeit
•European Workshop on Neutron Optics ’99 (NOP ‘99), Physica B 283, No. 4, 2000
•International instrument advisory team for the QUOKKA-SANS, Australian Nuclear Science and Technology Organisation (until 2005)
•Advisory commitee of Workshop on Neutron Delivery Systems, ILL Grenoble (1.-3.7.’09)
•Internationale Kleinwinkelstreukonferenz 2015, Mitglied des Organizationskommitees
•Internationale Kleinwinkelstreukonferenz 2018, Mitglied des internationalen Beratungskommitees
•IUCr Kommission für Kleinwinkelstreuung, Berater
•Wissenschaftlich-technische Beratungsgruppe der ESS für Neutronen-Kleinwinkelstreuung, Mitglied
•Gutachergruppe des MLZ für Meßzeitvorschläge, Gutachter
Wissenschaftliche Erfahrung
• Instrumentierung für Neutronen- und Röntgenstreuung
• Neutronenkleinwinkelstreuung (SANS)
• Festkörperphysik, Dünnschichtmagnetismus, KrIstallographie
• Reflektometrie mit Röntgenstrahlen und polarisierten Neutronen, SQUID, vibrating sample magnetometry, RBS, TEM, SEM, STM, Schichtabscheidung durch Kathodenstrahlzerstäubung
Publikationen