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Hochauflösendes Diffraktometer für die Analyse kleinster Wachstumsfehler oder Versetzungen sowie für die Synthesekontrolle
Vereint das Dünnschicht- und Pulver-Diffraktometer in einem Instrument. Zusätzlich sind Reflektivitätsmessungen für die Oberflächenanalyse von dünnen Schichten möglich.