Korundtiegel Probenträger für Hochtemperaturexperiment
Probe mit CN-Beschichtung
Pulverprobe
Hochauflösendes Diffraktometer für die Analyse kleinster Wachstumsfehler oder Versetzungen sowie für die Synthesekontrolle
Vereint das Dünnschicht- und Pulver-Diffraktometer in einem Instrument. Zusätzlich sind Reflektivitätsmessungen für die Oberflächenanalyse von dünnen Schichten möglich.