Analytische Methoden

Zur strukturellen / optischen / elektrischen Charakterisierung steht der Abteilung eine Vielzahl von meßtechnischen Methoden zur Verfügung. Diese dienen sowohl der materialwissenschaftlichen Grundlagenforschung als auch der Charakterisierung von Solarzellen.

Methoden zur Charakterisierung des Grenzflächenverhaltens von Halbleitern

  • Photoelektronenspektroskopie (UPS, XPS)
  • Niederenergetische Elektronenbeugung (LEED)
  • Tunnelmikroskopie (STM)

Methoden zur elektrischen Charakterisierung

Methoden zur Defektanalytik